uuprog开发教程：pal芯片测试

liyf · 发表于 2015-5-7 02:34:02

要测试pal可编程逻辑芯片的好坏基本没什么必要，除非你已知该芯片实现的逻辑功能针对性的测试是否正常。
而这个芯片的测试功能主要还是用于该芯片的逻辑结构，具体实现了什么功能，从而推导出其实现的逻辑功能，进而直接产生jed烧录脚本或者逻辑结构图。一般的编程器基本都指示测试功能而已，对于最后的功能能够实现的还是比较少的，只看到有一款编程器实现了，但是那个也淘汰了。

通过添加不同的测试逻辑来尝试，进而判断出其功能，后期会加入直接调入已写好的测试逻辑文件
void CUUProgDlg::OnDeviceTestPal()
{
// TODO: Add your command handler code here
CProgDeviceTestPal testpaldlg;
testpaldlg.DoModal();
}
调取窗口类
该功能需要涉及测试逻辑数据的存取，通过已有数据来测试芯片内的逻辑程序的功能。
一种情况是在已知的情况下当然就容易多了，设置输入输出的高低电平即可判断芯片实现的逻辑是否正常。
另一种情况就是未知芯片逻辑功能实现，这就需要一堆逻辑数据来测试各脚的输入输出，通过不断的尝试各种数据达到推演出逻辑功能，进而可以输出逻辑表达式或者编译出可直接烧写的jed代码，这个功能实现起来不简单，编写测试的逻辑数据也不简单。
后期会慢慢加入解说，欢迎关注