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标题: 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论 [打印本页]
作者: liyf 时间: 2013-1-18 11:23
标题: 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论
基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论,比较实例化,中文图文说明,资料比较老了,编程器通断测试可参考
集成电路测试机发展史简介......................................... 3
测试的专业术语简介......................................................................................... 5
芯片测试中的一些专业术语....................................................................... 5
测试中硬件的一些专业术语....................................................................... 5
测试系统中的一些专业术语....................................................................... 6
测试参数中的一些专业术语....................................................................... 7
测试设备的一般结构......................................................................................... 9
FUNCTIONAL测试原理.................................................................................. 11
功能测试简介.............................................................................................. 11
TestVector.................................................................................................... 12
InputSignal Format........................................................................................ 13
InputSignal Creation...................................................................................... 14
OutputSignal Testing..................................................................................... 15
一些基本参数的测试原理............................................................................... 16
Open/ShortTest............................................................................................ 16
IDDTEST..................................................................................................... 19
VOL/IOLVOH/IOH TEST........................................................................... 20
InputCurrent (IIL/IIH)................................................................................... 21
附录..................................................................................................................... 22
TestDevelopment Steps................................................................................. 22
本地下载:
基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论.doc
(1023.5 KB, 下载次数: 81)
作者: ason.jens 时间: 2013-2-1 23:00
辛苦了,感谢有你
作者: cjj 时间: 2013-2-19 21:14
真好,学习学习
作者: program 时间: 2013-2-28 10:32
作者: gyict 时间: 2013-5-26 10:33
学习,谢谢。
作者: YH06 时间: 2013-7-18 14:17
又学习了
感谢劳动
作者: hdzl 时间: 2013-7-18 16:31
这都是底层的东东,一般人弄不到的呀,强!
作者: shangdawei 时间: 2013-7-22 14:58
感谢楼主分享啊
作者: 21336721 时间: 2013-12-9 14:11
好帖要顶
作者: zhengdb 时间: 2013-12-9 15:37
学习,了解,总会有用的,,
作者: zxb201 时间: 2015-10-5 17:11
非常好的资料,值得学习参考,谢谢,
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