![]() |
图1:静电破坏成为半导体设备失效的第一杀手 |
![]() |
图2:ESD是电脑故障的罪魁祸首 |
![]() |
图3:人体模型的产生原理和设备示意图 |
![]() |
图4:IEC61000-4-2中规定的静电波形在这个标准中规定了静电测试的不同等级 |
![]() |
表1:IEC61000-4-2中规定的静电测试等级 |
![]() |
|
![]() |
图6:MLV在USB防护中的应用实例 |
![]() |
图7:多层压敏电阻结构示意图和金相图多层压敏电阻 |
![]() |
图8:压敏电阻的IV曲线图 |
![]() |
|
![]() |
图10:Epcos对2007年中国大陆压敏电阻需求量的估计 |
![]() |
|
欢迎光临 DIY编程器网 (http://diybcq.com./) | Powered by Discuz! X3.2 |