IC 设计期间,最坏情形的模 拟可帮助设计师说明 PNP 和 NPN 晶体管以及基极电阻器和多晶硅电阻器的特性变化。仅是这四类器件产生的模拟条件组合就超过 16 种。为了适应温度变化,每个组合都要在 -40℃、+27℃(室温)和 +125℃ 下接受模拟,因此在模拟完成时会产生至少 48 个数据系列供分析。为了帮助 IC 设计师评估模拟波形的特性,PSpice 提供了一个由若干易用并预先定义的测量尺度组成的库,包括带宽、增益/相位余量等等。PSpice 还允许设计师利用预先定义的 YatX 和 XatNthY 测量尺度,在给定的 x 值(通常是时间)测量波形的 y 值,并找出一个对应于给定 y 值第 n 个实例的 x 值。
但是,当2号波形跨过特定 y 值时,设计师必须测量1号波形的值,在这种情况下,预先定义的测量尺度就不适用了,这是因为 PSpice 不允许嵌入,这与很多编程语言不同。本设计实例介绍了如何创建一个能解决该问题的定制型 PSpice 测量表达式。正如表1所示,测量表达式本身是直截了当的。第 1 行可发现 1 号迹线跨过第 n 个正斜率的 y1 值时的 X 值 (x1)。第 2 行是由表底部的大括号表示的,搜寻 2 号迹线 (y2) 在 x1 的值。与此类似,表2表明设计师如何创建一个测量表达式,来找出 1 号迹线跨过第 n 个负斜率的 y1 值时的 y2 值,或当 1 号迹线跨过其整个 y 轴范围的给定百分比时的 y2 值。